Atliekami užsakomieji kietųjų medžiagų (metalų, metalų lydinių, puslaidininkių, keramikos, grunto, uolienų, druskų) cheminės ir fazinės (mineraloginės) sudėties tyrimai rentgeno spindulių fluorescencinės spektroskopijos (WD-XRF ir EDX) ir rentgeno spindulių difrakcijos (XRD) metodais. Spektrometras Axios max (Panalytical) ir difraktometras SmartLab (Rigaku).
Mėginių paruošimui naudojama speciali įranga:
- Struers firmos pjovimo įranga Secotom-15;
- Struers firmos šlifų gamybos (šlifavimo) įranga Tegramin 25;
- FRITSCH firmos rutulinis malūnas (volframo karbido indas ir rutuliai) Pulverisette 6 birių mėginių ruošimui;
- Herzog firmos hidraulinis presas TP-20 birių mėginių tablečių gamybai (F 37, F 20 ir F 10 mm);
Nedidelių matmenų, sudėtingos konfigūracijos metalo ar keramikos gaminių cheminė sudėtis tiriama EDX metodu skenuojančiame elektroniniame mikroskope Helios Nanolab 650 (FEI Company) ir EVO-50 (Carl Zeiss).
Plonų (10-40 nm) paviršiaus sluoksnių cheminė sudėtis ir cheminių elementų būsena bei jų pasiskirstymas pagal gylį tiriama rentgeno fotoelektronų spektroskopijos (XPS) metodu spektrometru Axis Supra+ (Kratos Analytical).
Kietųjų medžiagų paviršiaus ir skersinių pjūvių, paruoštų naudojant fokusuotų galio jonų pluoštelį (FIB), vaizdai gaunami elektroniniu mikroskopu Helios Nanolab 650 (FEI Company). Mikroskopo skyra iki 0,9 nm.
Kietųjų medžiagų vidinė struktūra, nano ir mikroninių dydžių dalelių forma, cheminė sudėtis ir kristalinė struktūra tiriama peršviečiančiuoju elektroniniu mikroskopu Tecnai G2 F20 X-TWIN (FEI Company). Mikroskopo skyra iki 0,1 nm.
Informacija ir užsakymų priėmimas:
Mob.tel.:+370 662 32654