Optinio pluošto kritimo kampo nustatymo įrenginys, sistema ir metodas

  • Patentas: US 12474430 B2
  • Autoriai: Julijanas Želudevičius, Giedrius Dubosas

Aprašymas: Išradimas skirtas laisvosios erdvės optinio ryšio sistemoms ir leidžia nustatyti optinio pluošto kryptį naudojant interferencinius optinius filtrus.