Paslaugos

Rentgeno difrakciniai (struktūriniai) tyrimai (XRD) – kokybinė ir kiekybinė fazinė analizė; mikrokiekių fazinė analizė naudojant polikapiliarinę optiką; aukštatemperatūriniai matavimai nuo +25 iki +1100 °C ore ar inertinių (helio) dujų aplinkoje; kristalitų dydžio, mikrodeformacijų, makrodeformacijų dydžio nustatymas, kristalitų vyraujančios orientacijos tyrimai polinių figūrų metodu; ypatingai plonų (1–10 nm storio) sluoksnių tyrimai in-plane metodu; epitaksinių sluoksnių svyravimo kreivių (rocking curves) ir atvirkštinės gardelės žemėlapių (RSM) matavimai; plonų sluoksnių storio, tankio ir šiurkštumo tyrimai rentgeno spindulių reflektometrijos metodu (XRR); nanoporų ir nanodalelių (1-100 nm) pasiskirstymo pagal dydį tyrimai rentgeno spindulių sklaidos ties mažais kampais (SAXS) peršvietimo ir atspindžio metodais.
Paviršiaus morfologijos ir skersinių pjūvių tyrimai skenuojančios elektroninės mikroskopijos (SEM) bei fokusuoto galio jonų pluoštelio (FIB) metodais.
Kokybinė ir kiekybinė cheminė (elementinė) analizė miltelių, mineralų, katalizatorių, keramikos, stiklų, plastmasių, metalų ir jų lydinių rentgeno spindulių fluorescencinės spektroskopijos (WD-XRF), rentgeno spektrinės mikroanalizės (EDX) ir rentgeno fotoelektronų spektroskopijos metodais (XPS).
Vidinės struktūros tyrimai peršviečiančiu elektroniniu mikroskopu (TEM, STEM-HAADF, EDX, elektronų difrakcija pasirinktame plote).
Plonų sluoksnių cheminės ir fazinės sudėties bei jų priklausomybės nuo gylio tyrimai rentgeno fotoelektronų (XPS-UPS) ir Ožė elektronų spektroskopijos metodais.
Anglies ir sieros kiekių nustatymas anglies ir sieros analizatoriumi CS-2000. Anglies aptikimo riba plienuose – 1 ppm.