Gruodžio 17 d. pradėtas eksploatuoti naujasis Rentgeno fotoelektronų spektrometras (XPS) Axis Supra (gamintojas – Kratos analytical).
Šis spektrometras ženkliai praplės Medžiagų struktūrinės analizės skyriaus galimybes tiriant plonų paviršiaus sluoksnių cheminę sudėtį.
Plačiau apie teikiamas struktūrinės analizės paslaugas: